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- 日本日置HIOKI 3504 C测试仪
详细信息
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
- *多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
- 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
- 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
- 可选定测量电压
- 触发同步测量
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan）
测量范围
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000基本确度
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）
CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）
CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）
CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）
信号电平精度 ±10% ± 5 mV输出电阻
5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示
发光二级管
测量时间
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能
BIN 分选测量功能（仅限于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm,
附件
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1
(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。 - *多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
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